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  2. 日本理學ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀

    型號:ZSX Primus IV
    理學掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計,完美契合粉末樣品測試需求,可以快速定量分析從Be(鈹)到U(鈾)的各種類型樣品的成分分析。

    產品描述

    理學波長色散型X射線熒光光譜儀—ZSX Primus IV

    Rigaku ZSX Primus IV采用上照射設計,再不用擔心粉末樣品污染光路,損害光管的風險,操作安全放心。 集合所有ZSX系列的優點:雙真空系統,自動真空控制,mapping/微區分析,超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。ZSX Primus IV完全具備迎接21世紀實驗室挑戰。

    新的ZSX Guaidance專家系統XRF軟件

    ZSX Guaidance專業操作軟件為XRF測量和數據分析的各個方面提供支持。準確的分析只能由專家進行嗎?不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內置的XRF專業知識和熟練的專家知識,可以處理復雜的設置。操作員只需輸入有關樣品,分析組分和標準組成的基本信息。具有最小重疊,最佳背景和校正參數(包括線重疊)的測量線可以借助儀器自動設置。


    卓越的輕元素XRF表現,具有可靠性的優越

    ZSX Primus IV具有創新的光學上照式光路結構。使得再也不用擔心被光路被污染,減少后期維護。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有卓越的性能和分析最復雜樣品的靈活性,采用30微米鈹窗膜的光管,這是業界最薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素檢測限。

    映射和多點XRF分析

    結合最先進的成像軟件包相結合,可檢測均勻性和夾雜物,ZSX Primus IV可以對樣品進行簡單詳細的XRF光譜測量研究,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解??捎玫亩帱c分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

    SQX基本參數與EZ-Scan軟件

    EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括譜線重疊。SQX還可以校正光電子,不同氣氛,雜質和不同樣品量的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。


    特征

    • 從Be到U的元素分析


    • ZSX Guidance專家系統軟件


    • 數字多通道分析儀(D-MCA)


    • EZ分析界面進行常規測量


    • 上照式光學系統,使污染問題最小化


    • 占地面積小,占用的實驗室空間更少


    • 微量分析可分析小至500μm的樣品


    • 30μm管提供卓越的輕元素性能


    • 映射功能的元素地形/分布


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