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  2. 日本理學(xué)ZSX PrimusIII+波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在MLCC中的應用

    發(fā)表日期:2023/04/19 瀏覽次數:

    在鈦酸鋇生產(chǎn)過(guò)程中,非常重要指標鋇鈦摩爾比,簡(jiǎn)稱(chēng)鋇鈦比。鋇鈦比直接影響鈦酸鋇的四方度,進(jìn)而影響鈦酸鋇的介電常數和絕緣電阻。對于高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體,鋇鈦比的控制精度要求高,一般控制精度要求小于0.001。通常用化學(xué)滴定法檢測出BaTiO3BaOTiO2的含量,就可計算Ba/Ti的摩爾比。但化學(xué)滴定法的精確程度只有0.002左右,且操作人員和環(huán)境對誤差的影響大,不能滿(mǎn)足鈦酸鋇Ba/Ti摩爾比的要求。可借助儀器設備(ICP-OES)精確測量BaTi的元素含量,再計算Ba/Ti摩爾比。ICP微量元素準確測試設備,但需把樣品制備成液體,前處理需稀釋幾百上千倍,過(guò)程易帶來(lái)作誤差,且費時(shí)費力,不能滿(mǎn)足用戶(hù)時(shí)效性。

    X射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)擁有高精密度、高準確性、制樣簡(jiǎn)單、可一次性報出所需目標元素結果,是解決以上難題的最佳選擇,被越來(lái)越多的MLCC企業(yè)所采用。該方法的理論檢測精度達到0.0001-0.0003,完全滿(mǎn)足鈦酸鋇檢測的要求。

    日本電子材料工業(yè)協(xié)會(huì )標準規格EMAS對鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比標準如下:

    EMAS-4202

    采用玻璃熔片法進(jìn)行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線(xiàn)分析法

    EMAS-4203

    采用壓片法進(jìn)行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線(xiàn)分析法

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    EMAS行業(yè)標準制定中,共有15家鈦酸鋇生產(chǎn)廠(chǎng)家參與制定。其中,13家使用的是理學(xué)的設備對鈦酸鋇中Ba/Ti摩爾比檢測,其檢測精度都在千分之一以下,能滿(mǎn)足企業(yè)對高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體Ba/Ti摩爾比控制要求。

    理學(xué)公司的X射線(xiàn)熒光光譜儀掃描道ZSX Primus III+對鈦酸鋇粉末質(zhì)量管理,鈦鋇比標準偏差(摩爾比)~10-4。根據實(shí)測結果,ZSX Primus III+的精度在0.0002~0.0003。

    產(chǎn)品特點(diǎn):
    1、4KW大功率高頻X射線(xiàn)發(fā)生器;
    2、采用30μm超薄鈹窗膜大幅度提高檢測靈敏度;
    3、上照式方式確保粉末樣品測試的安全可靠性;
    4、儀器內部平行雙真空室提高分析穩定性;
    5、全中文定性、定量分析、維護管理軟件;
    6、對未知樣品的無(wú)標樣分析—New SQX軟件。

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